Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
тестовый кристалл ИС для разработки технологии — technologijos tikrinimo lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour… … Radioelektronikos terminų žodynas
Testchip — bandomasis lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
bandomasis lustas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
puce de test — bandomasis lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
test chip — bandomasis lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle — technologijos tikrinimo lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour… … Radioelektronikos terminų žodynas
process-development chip — technologijos tikrinimo lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour… … Radioelektronikos terminų žodynas
puce de test pour conception du processus — technologijos tikrinimo lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour… … Radioelektronikos terminų žodynas
technologijos tikrinimo lustas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour conception du processus, f … Radioelektronikos terminų žodynas
Дискавери STS-91 — п· Полётные данные корабля Название корабля Дискавери Стартовая площадка КЦ Кеннеди, СП 39 А[1] … Википедия
